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课程大纲 |
A班《电子电气产品失效分析技术及经典案例》
第一部分 失效分析技术
1、失效分析基本概念
A、质量---à可靠性--à失效物理----à失效分析
B、术语定义:失效、缺陷、失效分析、失效模式、失效机理、应力……
C、失效分析的问题来源、入手点、输出物、相关标准
D、失效分析对技术人员的要求
2、失效分析的作用
3、失效分析纲要
A、失效分析的原则 B、失效分析的流程 C、方案设计的要点
4、失效信息收集
A、样品信息 B、外界影响因素信息 C、失效问题描述
5、非破坏性分析
A、外观检查 B、电测和失效确认
C、(可能涉及的故障定位与模式确定) D、非破坏的物理分析手段
6、半破坏性分析
7、破坏性分析
8、综合分析与结论
A、综合分析中的逻辑思维能力 B、结论的特点与正确使用
9、验证与改进建议
A、根本原因排查与验证 B、改进建议及效果跟踪
第二部分 失效分析典型案例及失效机理讲解
(1) 失效分析全过程案例
(2) 静电与闩锁失效分析案例
(3) 过电失效分析案例
(4) 机械应力失效分析案例
(5) 结构缺陷失效分析案例
(6) 热变应力失效分析案例
(7) 材料缺陷失效分析案例
(8) 工艺缺陷失效分析案例
(9) 整机设计缺陷失效分析案例
(10) 污染腐蚀失效分析案例
(11) 元器件固有机理失效分析案例
B班《电子元器件可靠性评价技术(即物料管控技术)》
第一部分 使用方电子元器件有效可靠性评价技术介绍
1、传统元器件技术认定方式
2、元器件的有效可靠性评价技术介绍
3、元器件批次性质量控制技术介绍
第二部分 电子元器件及其封装结构
1、元件类
A、电阻器 B、电容器 C、电感器
D、继电器 E、连接器 F、谐振器
2、器件类
A、二极管 B、三极管 C、发光管
D、功率器件类 E、光耦 F、集成电路
3、模块类
A、开放式 B、密封式 C、灌封式
第三部分 主流门类元器件的主要失效机理及其可靠性评价技术方法
1、元件类
A、轴向薄膜电阻器 B、片式薄膜电阻器 C、片式多层陶瓷电容器
D、铝电解电容器 E、塑封继电器 F、晶体谐振器/振荡器
G、连接器
2、器件类
A、二极管 B、发光管 C、三极管、功率器件、电源器件
D、光耦 E、集成电路(着眼于共性问题)
二、培训对象
1、各企事业单位从事与电子电气产品、元器件相关的工作人员(电子电气检测实验室工作人员、产品研发、品质管理、安全监督、可靠性、工艺师、质量检验、测试、采购、失效分析技术人员等);各大、专院校、职业技术学院等电子专业相关人员;
2、供应商管理工程师、元器件认定工程师、质量工程师、研发元器件管理工程师、进货检验技术主管;
3、使用相关仪器和测试对半导体器件、光电子器件、电真空器件、机电元件、通用元件及特种元件进行质量检验的人员。
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